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Métrologie des Systèmes Simples et Test Fondamentaux
Métrologie des Systèmes Simples et Test Fondamentaux
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Piège électrostatique pour faisceaux d’ions multichargés
26 mai 2009, par
Paul INDELICATO
Colloque "SPARC"
9 février 2007, par
Paul INDELICATO
Accélérer des atomes avec des photons pour mesurer la constante de structure fine
26 mai 2007, par
Paul INDELICATO
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